精品熟女,伊人久久综合影院,天堂SV网,怡红院亚洲视频

      <label id="m38a9"><legend id="m38a9"></legend></label><li id="m38a9"><legend id="m38a9"></legend></li>

      <rt id="m38a9"></rt>

      1. 產(chǎn)品分類

        您的位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 儀器 > 實驗室儀器 > TFE000049Helios G4 CX DualBeam雙束顯微鏡

        產(chǎn)品中心
        產(chǎn)品名稱: Helios G4 CX DualBeam雙束顯微鏡
        產(chǎn)品型號: TFE000049
        產(chǎn)品時間: 2020-06-29

        客服熱線:4008005586

        Thermo Scientific™ Helios™ G4 DualBeam™產(chǎn)品系列憑借其聚焦離子束和電子束性能、專有軟件、自動化和易用性特征,重新定義了樣品制備和三維表征的標試方式。屬于業(yè)界Helios DualBeam系列的第四代產(chǎn)品,專為滿足科學家和工程師的各類分析及研究需求而設計,它將創(chuàng)新的Thermo Scientific Elstar ™ 電子鏡筒和Thermo

        產(chǎn)品介紹

        系統(tǒng)不僅配置進的電子和離子光學系統(tǒng),還采用了一系列進的技術,可實現(xiàn)簡單一致的高分辨率S/TEM和原子探針斷層掃描(APT)樣品制備,以及質(zhì)量的內(nèi)部和三維表征,即使在挑戰(zhàn)性的樣品上也表現(xiàn)出色。Helios G4 CX DualBeam系統(tǒng)的技術創(chuàng)新結(jié)合易于使用、面的 Thermo Scientific AutoTEM ™4軟件(可選)和專業(yè)的應用知識,可快速輕松地定位制備各類材料的高分辨S/TEM樣品。為了獲得高質(zhì)量的結(jié)果,需要使用低能離子進行精拋,以大限度地減少樣品的表面損傷。Tomahawk聚焦離子束(FIB)鏡筒不僅可以在高電壓下進行高分辨率成像和刻蝕,而且具有良好的低電壓性能,可以制備高質(zhì)量的TEM薄片。

         

        產(chǎn)品特點

        • Tomahawk離子鏡筒實現(xiàn)速、高質(zhì)量、定位TEM和原子探針樣品制備。

        • lstar電子鏡筒以短時間獲取納米尺度信息。

        • 多達6個集成化鏡筒內(nèi)及透鏡下探測器,采集優(yōu)質(zhì)、銳利、無荷電圖像,提供完整的樣品信息。

        • 可選AS&V4軟件,精確定位感興趣區(qū)域,獲取質(zhì)量、多模態(tài)內(nèi)部和三維信息。

        • 小于10nm復雜結(jié)構的快速、準確、精確刻蝕和沉積。

        • 高度靈活的110 mm樣品臺和內(nèi)置的Thermo Scientific Nav- Cam ™ 相機實現(xiàn)精確樣品導航。

        • 集成化樣品清潔管理和的DCFI和Thermo Scientific SmartScan ™ 等模式實現(xiàn)無偽影成像。

         

        參數(shù)

        電子束

        • 在工作距離下:

          − 30kV下STEM 0.6nm

          − 15kV下 0.6nm

          − 1kV下 1.0nm

          − 1kV下 電子束減速模式 0.9nm

        • 在束重合點:

          − 15kV下 0.6nm

          − 1kV下 2.5nm

        • 電子束流范圍:0.8pA–100nA

        • 加速電壓范圍:200V-30kV

        • 著陸能量范圍: 20eV-30keV

        • 大水平視場寬度:4mm工作距離下為2.3mm

        離子光學

        • 大束流Tomahawk離子鏡筒

        • 離子束流范圍:0.1pA–65nA

        • 加速電壓范圍:500 V-30kV

        • 兩級差分抽吸

        • 飛行時間(TOF)校準

        • 15 孔光闌

        • 大水平視場寬度:在束重合點出為0.9mm

        • 離子源壽命至少1,000小時

        • 離子束分辨率(在重合點處):

         − 30kV下 4.0nm(采用統(tǒng)計方法)

         − 30kV下 2.5nm(采用選邊法)

        探測器

        • Elstar 透鏡內(nèi)SE/BSE 探測系統(tǒng)(TLD-SE、TLD-BSE)

        • Elstar 鏡筒內(nèi)SE/BSE 探測系統(tǒng)(ICD)

        • Elstar 鏡筒內(nèi)BSE 探測系統(tǒng)(MD)

        • ETD–Everhart-Thornley 二次電子探測器

        • 樣品室紅外CCD相機,用于樣品臺高度觀察

        • ICE探測器-高性能離子轉(zhuǎn)換和電子探測器,用于采集二次電子和二次離子

        • Nav-Cam ™ : 樣品室內(nèi)彩色光學相機,用于樣品導航

        • DBS–可伸縮式低電壓、高襯度、固態(tài)背散射電子探測器

        • STEM 3+ – 可伸縮分割式探測器(BF、DF、HAADF)

        • 集成電子束流測量

        樣品臺和樣品

        • 靈活五軸電動樣品臺:

         -XY范圍:110mm

         - Z范圍:65mm

        • 旋轉(zhuǎn):360°(連續(xù))

        • 傾斜范圍:-15°到 +90°

        • XY重復精度:3μm

        • 大樣品高度:與優(yōu)中心點間隔85mm

        • 大樣品質(zhì)量(0°傾斜):2kg(包括樣品托)

        • 大樣品尺寸:可沿X、Y軸*旋轉(zhuǎn)時直徑為110mm(若樣品超出此限值,則樣品臺行程和旋轉(zhuǎn)會受限)

        • 同心旋轉(zhuǎn)和傾斜真空系統(tǒng)

        • *無油的真空系統(tǒng)

        • 樣品倉真空(高真空):< 2.6 x 10 -6 mbar(24小時抽氣后),抽氣時間:< 5 分鐘樣品倉

        • 電子束和離子束重合點在分析工作距離處(SEM 4mm)

        • 端口:21個

        • 內(nèi)寬:379mm

        • 集成等離子清洗

        產(chǎn)品料號產(chǎn)品貨號*產(chǎn)品名稱*產(chǎn)品規(guī)格
        TFE000049TFE000049Helios G4 CX DualBeam雙束顯微鏡 Helios G4 CX DualBeam

        相關產(chǎn)品

        留言框

        • 產(chǎn)品:

        • 您的單位:

        • 您的姓名:

        • 聯(lián)系電話:

        • 常用郵箱:

        • 省份:

        • 詳細地址:

        • 補充說明:

        • 驗證碼:

          請輸入計算結(jié)果(填寫阿拉伯數(shù)字),如:三加四=7
        在線客服
        返回頂部